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白剛玉的粒徑分析方法概述
2014-5-21    來源:www.hargerandcompany.net    作者:東莞大江研磨材料有限公司
一、篩分法。

優點:簡單、直觀、設備造價低,常用于大于40um的樣品。

缺點:結果受人為因素和篩孔變形影響較大。

 

二、顯微鏡(圖像)法。

優點:簡單、直觀,可進行形貌分析,適合分布窄(最大和最小粒徑的比值小于101)的樣品。

缺點:代表性差,分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,無法分析小于1um的樣品。

 

三、沉降法(包括重力沉降和李新沉降)。

優點:操作漸變,儀器可以連續運行,價格低,準確性和重復性較好,測試范圍較廣。

缺點:測試時間較長,操作比較繁瑣。

 

四、電阻法。

優點:操作漸變可測顆粒數,等效概念明確,速度快,準確性好。

缺點:不適合測量小于0.1um的顆粒樣品,對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。

 

五、激光法。

優點:操作簡便,測試速度快,測試范圍廣,重復性和準確性好,可進行在線測量和干法測量。缺點:結果受分布模型影響較大,儀器造價較高,分辨力低。

 

六、電子顯微鏡法。

優點:適合測試超新顆粒甚至納米顆粒,分辨力高,可進行形貌和結構分析,

缺點:樣品少,代表性差,測量易受人為因素影響,儀器價格昂貴。

 

七、光阻法。

優點:測試便捷快速,可測液體或氣體中顆粒數,分辨力高。

缺點:不適用粒徑小于1umde樣品,進行系統比較講究,僅適合對塵埃、污染物或已稀釋好的藥物進行測量,對一般粉體用的不多。

八、透氣法。

優點:儀器價格低。不用對樣品進行分散,可測測性材料粉體。

缺點:只能得到平均粒度值,不能測粒度分布;不能測小于5um細粉。

 

九、X射線小角散射法。

用于納米級顆粒的粒度測量。

 

十、光子相關譜法(動態光散射法)。

用于納米級顆粒的粒度測量。

 

以上就是我們公司為大家介紹的有關白剛玉的粒度檢測方法對比的相關資訊,如果您對我們的白剛玉產品感興趣,請聯系我們,我們將竭誠為您服務。

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